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Résultats de recherche
From nanoscale to macroscale, using the atomic force microscope to quantify the role of few-asperity contacts in adhesion
Mot-clé:
Surface roughness; Surface forces; Van der Waals f
Créateur:
Thoreson, Erik J.
Advisor:
Burnham, Nancy A.
Éditeur:
Worcester Polytechnic Institute
date créée:
2006-01-09
Resource Type:
Dissertation
Degree:
PhD
Unit (Department):
Physics
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Collections
PhD Dissertations
1
Year
2006
1
Créateur
Thoreson, Erik J.
1
Advisor
Burnham, Nancy A.
1
Contributor
Burnham, Nancy A.
1
Camesano, Terri Anne
1
DePaor, Declan G.
1
Garcia, Rafael
1
Martin, Jack
1
Unit (Department)
Physics
1
Éditeur
Worcester Polytechnic Institute
1
Type de ressource
Dissertation
1
